Ancre |
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| Premiere-utilisation |
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| Premiere-utilisation |
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| Lors de la première utilisation, il est nécessaire de définir le type de plaque utilisée.
Créer une nouvelle plaque Dans le logiciel IN Cell Analyzer: - Sélectionnez dans le menu Application>Plate\Slide Manager...
- Cliquez sur l'icone New Plate\Slide
- Sélectionnez le nombre de puits de votre plaque (6, 24, 96 etc...)
- Ajustez les paramètres suivants:
- Nom: Votre-Nom_Votre-plaque
- Hauteur de plaque, épaisseur du fond et volume du puit (Plate height, Bottom Thickness, well volume) habituellement fournis dans la fiche technique du produit par le manufacturier
- Le matériau utilisé plastique ou verre (Plastic or Glass)
- Si nécessaire ajustez le nombre de lignes et de colonnes ainsi que la forme du puit (rond ou rectangulaire)
- Cliquez sur OK
- Fermez la fenêtre du Plate/Slide Manager
Mesurer la hauteur et l'épaisseur du fond de plaqueDans le logiciel IN Cell Analyzer: Cliquez sur le DashboardDans Objective Lens selectionnez l' objectif 10xSur le plan de la plaque cliquez sur le centre d'un puit contenant un échantillon pour centrer ce puit sur l'objectifDans le menu du Dashboard sélectionnez Plate/SlideCliquez sur Verify LAFSi les 2 pics détéctés (lignes verticales bleues) correspondent aux pics mesurés (courbe noire)- Cliquez sur Apply Measured Parameters
- Cliquez sur OK
- Cliquez sur Yes
Si les 2 pics détéctés (lignes verticales bleues) ne correspondent aux pics mesurés (courbe noire)- Modifiez la valeur du bottom thickness et répétez l'opération
Fermez la fenêtre Laser Autofocus Plate/Slide VerificationMesurer l'écart du puit A1 (Offset) Dans le logiciel In Cell Analyzer: - Cliquez sur le Dashboard
- Dans Plate/Slide... selectionner la plaque nouvellement cree
- Dans Objective Lens selectionnez l'objectif 10x
- Dans la liste des canaux, cliquez sur le bouton + et ajoutez un canal en lumière transmise (brightfield)
- À droite du plan de la plaque, cliquez sur le bouton Setup Preview Imaging
- Dessinez un rectangle autour du puit A1
- Cliquez sur preview (sur le panneau d'acquisition en haut à droite de l'écran)
- Attendre que la prévisualisation soit générée
- Sur le plan de la plaque, cliquez sur le centre réel du puit A1 pour centrer ce puit sur l'objectif
Dans le menu du Dashboard sélectionnez Plate/Slide Cliquez sur Edit Plate puis sur Define Upper Left Well Cliquez sur Yes - Vérifiez que le cercle jaune coincide avec les bords du puit
Cliquez sur Yes
Mesurer la hauteur et l'épaisseur du fond de plaque Dans le logiciel IN Cell Analyzer: - Cliquez sur le Dashboard
- Dans Objective Lens selectionnez l'objectif 10x
- Sur le plan de la plaque cliquez sur le centre d'un puit contenant un échantillon pour centrer ce puit sur l'objectif
- Dans le menu du Dashboard sélectionnez Plate/Slide
- Cliquez sur Verify LAF
- Si les 2 pics détéctés (lignes verticales bleues) correspondent aux pics mesurés (courbe noire)
- Cliquez sur Apply Measured Parameters
- Cliquez sur OK
- Cliquez sur Yes
- Si les 2 pics détéctés (lignes verticales bleues) ne correspondent aux pics mesurés (courbe noire)
- Modifiez la valeur du bottom thickness et répétez l'opération
- Fermez la fenêtre Laser Autofocus Plate/Slide Verification
Calculer la distance inter-puits
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